2月15日，在天府新区集成电路设计创新公共平台工作间，工作人员通过扫描电镜观察芯片内部形貌。

近日，天府新区集成电路设计创新公共平台在成都正式投入试运营。该平台类似于为芯片做“体检”的“医院”，具备集成电路自动测试实验室、电性实验室、可靠性实验室等多个实验室，可以对芯片进行精准检测，为芯片设计提供帮助。

新华社记者 胥冰洁 摄影报道

2月15日，在天府新区集成电路设计创新公共平台工作间，工作人员在调试高加速老化试验箱，该装置可测试特定环境下芯片的封装气密性。

编辑：张岩 马宁 张浩波 冯为民